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用心打造于半導體設備電性能指標檢查

普賽斯儀表攜國產化高精度數字源表等半導體電性能測試設備亮相2023慕尼黑上海電子展

主要來源:admin 用時:2023-07-11 16:59 搜素量:1508
        9月11日,2023慕尼黑沈陽智能元器件封裝展(Electronica China)在沈陽國家大型上海展會主盛大開幕,此屆上海展會以“溶合多元化、智引的前景”為重題,悅維半導體芯片、無源元器件封裝、智力網聯&新生物質能氣車、調節器器、聯系器、電源模塊開關、智能線束光纜、電源模塊、測試英文自動測量、刷三極管板、智能元器件封裝生產研發的服務、先進性生產研發等企業主,做強從貨品的設計到APP下地的跨越服務業趨勢高低游的技藝提供網絡平臺,以多元化技藝使得中國大智能元器件封裝服務業趨勢趨勢。


        普賽斯智能儀表強院于半導體芯片設備芯片測驗中低端史詩裝備的國產化,攜全系例半導體芯片設備芯片電性能指標測驗股票莊家物料及半導體芯片設備芯片領域從食材、晶圓到電子器件測驗應對計劃方案出場這一次上海展會,吸引了諸多工程項目師和互聯網行業神秘嘉賓前來考察體會洽談。


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        試驗測量方法是整個的電子器材營造業效率控住的更有效機制,半導體材料依據生產營造階段有差異 ,效率控住可分前道論文監測、中道論文監測和后道試驗。前道論文監測又稱作為方式技藝論文監測,面對晶圓營造,檢則光刻、刻蝕、貼膜積聚、除垢、CMP等晶圓營造階段后物料生產制作叁數有沒達到了開發的標準或留存作用良率問題,看中生物學性論文監測;中道論文監測面對比較好的封裝類型,以光電技術等非相處式機制面對重步線節構、凸點與硅通孔等晶圓營造階段的效率控住;后道試驗首要面對晶圓論文監測(CP,Circuit Probing)和半成品試驗(FT,Final Test),檢則集成塊特點有沒完全符合的標準,看中電特點論文監測。


        貫穿半導體器件的電效能公測,普賽斯多功能智能儀表現場視頻商品展示了自己研發管理的源表系例(SMU)、智能恒流源 (FIMV)、髙壓外接電原 (FIMV、FVMI)、智能恒壓源及及數據報告信息終端錄入卡七小類車輛,是指整流源表、智能源表、窄智能感應直流電壓源、智能家居控制插卡式源表、高容柵的巨型感應直流電壓源、高容柵髙壓外接電原、數據報告信息終端錄入卡等國內生產化電效能公測多功能智能儀表,其動態平衡性、可靠的性、一致性獲得大量的市場上查驗。、


        專注第3代半導體設備加快提升下企業的會面臨的困難和挑戰賽,普賽斯設備總監運營總監兼生產研發枝術責任人人王承與現場視頻賓客實施了深一點層面的探究。


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SiC/IGBT功率半導體器件測試

        面對SiC/IGBT電子元配件在考試軟件中存在著的測不能、測不全、性能性、熱效率低的一些問題,普賽斯儀器推介的一種基本概念國產化高控制精度數據源表(SMU)的考試軟件方式,享有來詢的考試軟件意識、更準確的測定效果、更大的性能性與更周到的考試軟件意識。享有高電阻的輸出功率值(3500V)和大工作直流電(6000A)的優勢特點、μΩ級導通電阻的輸出功率準確測定、nA級工作直流電測定意識等優勢特點。可以髙壓玩法下測定的輸出功率電子元配件結電解電解電阻(電解電阻器),如輸入電解電解電阻(電解電阻器)、的輸出電解電解電阻(電解電阻器)、選擇性接入電解電解電阻(電解電阻器)等。


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GaN功率半導體器件測試

        針對性氮化鎵(GaN)以及砷化鎵(GaAs)等材料組合而成的便捷路元器的I-V檢驗,普賽斯儀器儀表新型投入市場的CP全系列電輸入脈沖造成的發生器發生器恒壓源不錯優質便捷避免檢驗關鍵問題。類食品包括電輸入脈沖造成的發生器發生器工作電流最快可至10A、電輸入脈沖造成的發生器發生器高度最少可低至100ns;支持系統直流電源、電輸入脈沖造成的發生器發生器兩種類型電壓電流輸送格局等特質。類食品可適用于GaN的自熱調節作用,電輸入脈沖造成的發生器發生器S指標檢驗等形式。

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科學課實驗儀器道路長坡厚雪,傳統用作標準過強。普賽斯智能儀表將持續性不斷持續性不斷創新,持續性不斷帶動房產鏈兩邊游合作項目三級聯動,以市場大的的成品與服務項目助推器合作方做到房產增加,共赴綠色基礎設施性不斷發展!



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